高低溫試驗箱ASTD-GDW溼熱交變箱定製保溫層要求採用高強度保溫良好的保溫材料↟▩,避免不必要的能量損失·•。測試門與機體採用耐高低溫的高張性密封條↟▩,確保測試區的密封·•。觀測視窗附照明保持箱內明亮·•。機體左右兩側各開一個直徑100毫米的測試孔↟▩,帶蓋及軟塞·•。
恆溫恆溼試驗箱ASTD-HWS-2000滿足標準│₪:$nGB10592-89 高低溫試驗箱技術條件$nGB10586-89 溼熱試驗箱技術條件$nGB2423.1-2001(IEC68-2-1) 試驗A│₪:低溫試驗方法$nGB2423.2-2001(IEC68-2-2) 試驗B│₪:高溫試驗方法$nGB2423.3-93(IEC68-2-3) 試驗Ca│₪:恆定溼熱試驗方法
用於測試和確定電工↟│╃•☁、電子及其他產品及材料進行高溫↟│╃•☁、低溫↟│╃•☁、或恆定試驗的溫度環境 變化後的引數及效能·•。高低溫迴圈試驗箱 恆溫恆溼環境箱 步入式
裝置名稱│₪:高低溫低氣壓試驗箱$n型號│₪:ASTD1000-70W$n標稱內容積│₪:可定製$n溫度範圍│₪:-70℃~+150℃$n壓力範圍│₪:常壓~0.5kPa$n降溫時間│₪:+20℃→ -65℃↟▩,0.5℃/min≤0.5℃/min降溫速率線性變化(常壓↟│╃•☁、空載)
低氣壓試驗箱主要用於航天↟│╃•☁、資訊↟│╃•☁、電子等領域↟▩,確定儀器儀表↟│╃•☁、電工產品↟│╃•☁、材料↟│╃•☁、零部件↟│╃•☁、裝置在低氣壓↟│╃•☁、高溫↟│╃•☁、低溫單項或同時作用下的環境適應性與可靠性試驗↟▩,並或同時對試件通電進行電氣效能引數的測量↟▩,採用整體式組合結構形式↟▩,試驗箱由位於前部的保溫箱體(承壓結構)↟│╃•☁、位於後部的製冷↟│╃•☁、真空機組和位於試驗箱大門上的電器控制器(系統)組成·•。
老化試驗箱作為基本的高溫老化測試↟▩,亦可當老化試驗機及烘箱使用, 呈現一機多用途的功能·•。
高低溫衝擊(冷熱)試驗箱 溼度範圍│₪:20% - 98%$n溼度偏差│₪:±3%$n溫度波動度│₪:≤±0.5℃ $n溫度均勻性│₪:≤2.5℃ $n溫度下降時間│₪:+75℃~-40℃(空載時30分鐘以內)$n溫度上升時間│₪:-40℃~+75℃(空載時30分鐘以內)
可程式試驗箱可分多段控制↟▩,因程式相對複雜及多重性↟▩,如用按鍵控制↟▩,功能鍵複雜而且難以牢記↟▩,因此直接採用液晶觸控式螢幕控制↟▩,只需設定好實驗程式↟▩,無需人員留守看護即可完成測試·•。快速溫度變化(溼熱)試驗箱
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